Ontwrigtingsdigtheidmeting in AIS1316L vlekvrye staal met elektronkanalisering- kontrasbeelding (EKKB)
Dislocation density measurement in AISI316L stainless steel using electron channelling contrast imaging
Abstract
Ontwrigtings beïnvloed meganiese eienskappe soos die sterkte en rekbaarheid van materiale. Ontwrigtings speel ook ’n baie belangrike rol in die plastiese vervorming van kristallyne materiale. Die digtheid van die ontwrigtings word gewoonlik bepaal deur van direkte beeldingstegnieke of indirekte metodes gebruik te maak. Die direkte tegnieke sluit in konvensionele transmissie-elektronmikroskopie (KTEM), ringvormige donkerveld- (RDV)-skandeertransmissie-elektronmikroskopie (STEM) en elektronkanalisering-kontrasbeelding (EKKB). X-straaldiffraksie-lynprofielontleding en elektronterugstrooidiffraksie- (ETD) wanoriëntasie-ontleding is van die algemeenste tegnieke wat gebruik word om die ontwrigtingsdigtheid van ’n materiaal indirek te bepaal.
Published
2024-02-14
How to Cite
Pullen, L., Westraadt, J., Ramasimong, D., & Knutsen, R. (2024). Ontwrigtingsdigtheidmeting in AIS1316L vlekvrye staal met elektronkanalisering- kontrasbeelding (EKKB). Suid-Afrikaans Tydskrif Vir Natuurwetenskap En Tegnologie / <i>South African Journal of Science and Technology</I>, 42(1), 109. Retrieved from http://satnt.co.za/index.php/satnt/article/view/995
Issue
Section
Referaatopsommings
